DK/DF材料测试
Delta-L测量后同时提取PCB成品板的 DK/DF值， 可在不破坏 PCB 成品板的物理结构，提高测量效率。
系统概述
信号高频、高速化发展对信号完整性要求越来越严格，阻抗匹配、传输损耗的质量成为信号完整性至关重要问题。在高速测试测量领域中，DK（介电常数）和DF（损耗因子）测试是评估材料电磁性能的核心环节。传统的PCB损耗测试往往无法得到客户想要的线路部分的损耗，包含 Launch Pad以及Via的负面效应；因此导至测量误差大、对PCB工厂选材造成很大的困扰。
HC Delta-L 3.0/4.0 是基于 Intel 的新一代PCB插入损耗量测方法，解决了更高频率量测时 Launch Pad以及Via 的负面效应，提供高精确的线路损耗结果。再根据所得到数据反推DK/DF值，且不需要破坏PCB板结构。
系统特性
• 测量速度 :3~5s/poit • 同步自动阻抗测试
• 自动生成报告 EXCEL 测试报告、图片等原始测量资料及 SnP 文件存储
• 测量数据自我比对 (Difference) 以及不确定性参数验证 (Uncertainty) • 高达 40GHz 的增强物理拟合算法，良好的重复性
• 自动 Pass/Fail 判断 每个测点量测完成自动显示 Pass/Fail 于画面上
• 单独验证每对线中的 S21&S43 Spec 控制功能，提前验证线路好坏
• 搭配脚踏开关，快速测试
• 全频段 DK/DF 参数提取，无需谐振腔体
• WIN10/WIN7 操作系统，强大的报表输出功能 ：可提供丰富的报表模版
订购信息
| 型号 | 描述 | 厂家 |
| ZNA26/43/50/67 | 2或4端口矢量网络分析仪 | R&S |
| HC-SFDR | Resonant Cavity Method SPDR测试软件 | Hochin |
| HCACMM35026090 | 26.5G SMA Cable | Hochin |
| HC-SFDR-15 | Split post dielectric resonator 15 GHz，谐振腔 | Hochin |
复制产品链接
长按图片保存/分享
询盘
